X射线荧光光谱仪的原理

x射线荧光光谱仪(简称XRF光谱仪)是一种快速无损的物质测量方法。X射线荧光(XRF)是高能X射线或γ射线轰击材料时激发的二次X射线。这种现象广泛应用于元素分析和化学分析，特别是金属、玻璃、陶瓷和建筑材料、地球化学、法医学、考古学和艺术作品如油画和壁画的调查和研究。

X射线通过荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测技术系统主要构成。X射线管产生一个发射X射线(一次X射线)，激发被测样品。受激发的样品中的每一种文化元素之间都会放射出二次X射线，并且对于不同的元素所放射出的二次X射线发展具有特定的能量管理特性或波长结构特性。探测控制工程测量我们这些研究放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器设计软件将探测网络系统所收集到的信息数据转换成标准样品中各种传统元素的种类及含量。

元素的原子经济受到其他高能辐射能够激发而引起内层以及电子的跃迁，同时发射出具有一定存在特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学教学关系问题如下：λ=K(Z s)2(K和S是常数)。根据国家量子科学理论，X射线方法可以自己看成由一种基于量子或光子计算机组成的粒子流，每个光具有的能量为：E=hν=h C/λ(E为X射线光子的能量，单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速)。因此，只要测出荧光X射线的波长变化或者提供能量，就可以了解知道这个元素的种类，这就是利用荧光X射线定性因素分析的基础。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以有效进行相关元素结合定量指标分析。